EBIC testi için örnekler yarı iletken malzeme olmalıdır ve elektron delik çiftlerini ayırmak için iç elektrik alanı içermelidir.
Ölçümlerle, PN düğümünün konumunu ve genişliğini elde edebiliriz, IV eğrisi araştırmasıyla düzeltme özelliklerini belirleyebiliriz, birkaç taşıyıcının yayılma uzunluğunu inceleyebiliriz, kusurların konumunu inceleyebiliriz ve elektronik cihazların arıza analizini yapabiliriz.

Örnek 1: PN bağlantısının konumunu, genişliğini ve küçük yayılma uzunluğunu test edin

Örnek 2: Yarı iletken malzemesinin bit hatası yoğunluğunu test edin ve Si güneş hücresi malzemesindeki screw bit hatasını miktarlı olarak hesaplayın.