TümüYeni araştırma makinesi
Elektroskop örnekleme ekipmanlarıLEICA EM TXP, hedef alanı doğru konumlandıran* bir yüzey işleme aracıdır ve özellikleSEM'in,TEM'inveLM'ninGözlemeden önce örnekleri kesin,Cilalama gibi seri işleme. Özellikle hedefin ince konumlandırılması veya çıplak gözle gözlemlenmesi zor olan küçük hedeflerin noktalandırılması gibi çok zor örneklerin hazırlanması için uygundur. Var.Leica EM TXP'ninBu işler kolayca tamamlanabilir.
İçindeLeica EM TXP'ninDaha önce, hedef alanı için sabit nokta kesme, öğütme veya cilalama gibi işler genellikle zaman alıcı ve zor bir işti, çünkü hedef alanı kaybolmak çok kolaydı.Veya hedef boyutu çok küçük olduğundan işlenmesi zor. KullanımLeicaEM TXP'ninBu tür örnekler kolayca işlenebilir.
Ayrıca çok yönlü özellikleri sayesinde,Leica EM TXP'ninAyrıca iyon ışını öğütme teknolojisi ve ultra ince kesim teknolojisi için etkili bir ön örnekleme aracıdır.
Elektroskop örnekleme ekipmanları
Gözlem sistemine entegre
Örnek işleme sürecinin tamamını ve hedef bölgesini mikroskop altında gözlemlemek Örnek koluna sabitlemek, örnek işlemi sırasında stereo mikroskop aracılığıyla örneklerin gerçek zamanlı görüntülenmesiGözlem açısı.0°için60°ayarlanabilir veya ayarlanabilir-30°Bu mesafe gözlük ölçeği ile ölçülebilir.Leica EMTXP'ninAyrıca parlak halkalar da var.LED'lerIşık kaynağı, aydınlatma* Görsel gözlem etkisi elde edilir.
>Küçük hedef alanların tam konumlanması ve örnek hazırlanması
>Stereo mikroskop ile in situ gözlem
>Çok Fonksiyonlu Mekanik İşlem
>Örnek işleme sürecinin otomatik kontrolü
>Ayna gibi parlatma etkisi elde edilir
> LED'liHalka ışık kaynağı parlaklığı ayarlanabilir,4Bölüm seçeneği

Mikro ölçekli örnekleme için
Millimetre ve mikron ölçeklerindeki küçük hedefleri konumlandırmak, kesmek, öğütmek ve parlatmak zorlu bir işlerdir ve ana zorluklar şunlardan kaynaklanmaktadır:
>Hedef çok küçük, gözlemlenemez.
>Hassas hedef konumlandırma veya hedef açısı kalibrasyonu zor
>Hedef konuma ulaşmak ve parlatmak genellikle çok fazla insan ve zaman alır.
>Küçük hedefler kolayca kaybolur.
>Örnek boyutu küçük, kullanımı zor ve genellikle paket gömülmek zorunda kalır

Entegre Mikro Gözlem ve Görüntüleme Sistemi
Leica M80'iStereo Mikroskop
>Paralel ışık yolu tasarımı: Orta ana nesne ile paralel ışık yolu oluşturmak, odak düzeyi tutarlı
>Yüksek katlanabilir çözünürlük: Tüm değişkenlerin katlanabileceği görüntü kalitesi ve istikrarlı ışık gücü
>Ergonomik tasarım: Kullanım konforu*, kas gerginliği ve yorgunluğu olmadan
Leica IC80 HD'ninHD kamera
>Dikişsiz tasarım: Görüntü tüpü veya optik tüp eklenmeden optik kafa ve gözlük arasında monte edilir
>Yüksek kaliteli görüntü: Görüntü kalitesini sağlamak ve yansıtmayan görüntüler elde etmek için mikroskop ile koaksiyel ışık yolu
>Dinamik yüksek çözünürlüklü görüntüler sağlar, bilgisayarları bağlamak veya koparmak için kullanılabilir
4 Bölüm Parlaklığı AyarlanabilirLED'lerHalka Işık Kaynağı
>Farklı açılı aydınlatma örneklerin küçük ayrıntılarını gösterir

Leica Uygulama Paketi (LAS)Görüntü Ölçüm ve Analiz Yazılımı)*
>Dijital görüntüleme
>Görüntüler işlenebilir ve analiz edilebilir
Numuneyi çeşitli yöntemlerle hazırlamak
Örneklerin aktarılması gerekmez, sadece aletleri değiştirin
Örnekleri ileri ve geri taşımak gerekmez, sadece örnekleri işleyen aletleri değiştirmek için örnekleri işleme sürecini tamamlayabilirsiniz ve örnekleri işleme sürecinin tamamı gerçek zamanlı bir mikroskop ile gözlemlenebilir. Güvenlik nedenlerinden dolayı, alet ve örneklerin bulunduğu stüdyoda, örnek işleme sırasında operatörün yanlışlıkla çalışma parçalarına dokunmasını önleyen ve parçaların sıçramasını önleyen şeffaf bir güvenlik kapağı bulunmaktadır.
LEICA EM TXP'ninÖrnekler aşağıdaki şekilde işlenebilir:
>frezeleme
>Kesme
>Öğütme
>Parlatma
>Delme
Örnekleme Süreci



Elektroskop örnekleme ekipmanı mı?Uygulama Örnekleri
(1- Evet.PCB'ninlevha delik kesimleri işlenmek için


(2- Evet.IC'ninOrta Altın Tel Kaynak Noktası Sabit Noktalı Kesme Parlatma


(3Parçacık örnekleri gömülmemiş, örnek masasına yapıştırılmış

(4Saatte fındık kapağı

(5Kromlı cihazlardaki küçük kusurlar

