TEM, SEM ve LM için örnek hazırlama

Leica EM RES102, en iyi iyon taşlama sonuçları elde etmek için ayarlanabilir iyon ışını enerjisi olan iki eyer alanı iyon kaynağına sahip benzersiz bir iyon ışını taşlama cihazıdır.

Bu ayrı masaüstü cihaz, piyasadaki diğer cihazlardan çok farklı olan TEM, SEM ve LM örnek hazırlama özelliklerini bir araya getirir. Yüksek enerji iyon taşlama dışında

Leica EM RES102 özelliklerinin yanı sıra, düşük enerjili son derece hafif iyon ışını taşlama işlemlerinde de kullanılabilir.

› Tek taraflı veya çift taraflı iyon ışını öğütme, malzemenin iyon ışını inceleme işlemleri için uygundur. Öre alanı iyon kaynağı büyük bir elektron ışını şeffaf ince bölge elde edebilir.

Programlaştırılmış kontrol edilen iyon giriş açısı değişiklikleri, FIB örneği temizlemesi gibi özel örnek hazırlama amaçlarını tamamlamak için uygundur.

İyon ışını parlatma maksimum parlatma alanı 25mm'ye kadar ulaşılabilir.

› İyon ışını temizliği, örnek yüzeyinin kirlilik katmanlarını veya mekanik parlatmadan sonra yüzeyden oluşan uygulama katmanlarını temizlemek için uygundur.

› Örnek yüzey kaplama güçlendirme etkisi, kimyasal erozyon etkisinin yerini alabilir.

› 35° eğimli kesim, çoklu katmanlı örneklerin kesimlerini hazırlamak için kullanılır.

› 90° eğimli kesim, kompozit yapılar için yarı iletken örnekleri veya montaj cihazları hazırlamak için en az mekanik önişleme çalışması gerektirir.

- Seçiminize bağlı.

Çeşitli uygulama ihtiyaçlarını desteklemek için, Leica EM RES102, TEM, SEM ve LM örnek hazırlamaları için çeşitli örnek masaları montaj edebilir. Ön pompalama odası

Sistem hızlı örnek değişimi sağlar, böylece örnek değişimi verimliliğini etkili bir şekilde artırabilir.

Bu örnek masası, SEM ve LM örneklerinin iyon ışını temizlemesi, parlatması ve kaplama güçlendirilmesi için uygundur ve ortam sıcaklığında veya LN2 soğutma koşullarında kullanılabilir. SEM Örnek Masası

Maksimum boyut 25 mm'ye kadar örnekler hazırlanabilir. Adaptör, ticari üretim için 3.1mm çaplı fişli SEM örnek oturacağını tutmak için kullanılır.

Eğimli kesme örnekleri masası, örnekleri uzun kesim (90 °) veya eğimli kesim (35 °) almak için uygundur ve SEM'nin örneklerin iç uzun yapısını gözlemlemesini kolaylaştırır ve ortam sıcaklığında veya LN2 soğutma koşullarında kullanılabilir. SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.

İnce örnek masası, maksimum boyutları 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) mm örnekleri tutmak için kullanılır. Örnek masası, örnek almaya gerek kalmadan doğrudan SEM'ye kolayca aktarılabilir.

Ürünler.

TEM örnek klipleri, inceleme açısı 4 ° kadar düşük olan tek taraflı veya çift taraflı iyon ışını incelemek için kullanılır.

TEM dondurulmuş örnekler, sıcaklığa duyarlı örnekler hazırlamak için LN2 soğutma cihazı ile birlikte kullanılır.

FIB Temizleme Numune Masası, FIB numunelerini temizlemek ve yüzey morfolosuz kristal olmayan katmanları azaltmak için kullanılır.

Leica EM RES102, örnekleri iyon ışını inceleme, temizleme, kesim kesme, parlatma ve kaplama güçlendirme ile uygulama ihtiyaçlarınızın çeşitliliğini ve kolaylığını büyük ölçüde karşılar.

› 19 inç dokunmatik ekran bilgisayar kontrol ünitesi, örnekleme sürecini izler ve kayıtlar

› Yerleşmiş Uygulama Parametreleri Kütüphanesi

› Programlaştırılmış örnek parametreleri ayarı, yeni başlayanların öğrenme eğrisini hızlandırır

Yardım Dosyaları Yeni Başlayanlara Yardım ve Cihaz Bakımı

Verimli/maliyet tasarrufu

TEM, SEM ve LM uygulamaları bir arada

› TEM örnekleri hazırlamak için büyük ince alanlar elde edilir ve TEM örnekleri hazırlama verimliliğini etkili bir şekilde artırır

› SEM örnekleri için en fazla 25mm örnek çapı

› Ön pompalama odası sistemi örneklerin hızlı değişimine yardımcı olur, bekleme sürelerini azaltır ve örnek odasında sürekli yüksek vakum sağlar

› Yerel ağ fonksiyonu uzaktan kullanılabilir

› LN2 örnekleme masası, sıcaklığa duyarlı örneklerin iyon taşlanmasını optimize edilmiş koşullarda sağlar

Güvenlik

› Optik sonlandırma veya şeffaf örnekler için Faraday Kupası sonlandırma için hassas otomatik sonlandırma fonksiyonu

› Örnekleme sırasında zaman zaman canlı görüntüler veya videolar depolanabilir

› İyon kaynakları ve örnek hareket motoru, programlaştırılmış kontrol, böylece tekrarlanan örnekleme sonuçları elde edilir