Leica Metaz MikroskopuDM12000MOptik ilkeleri kullanılarak, ölçülen örnekler mikroskoptaki bir gözlem platformuna yerleştirilir ve örneklerin görüntüsü yansıtılarak veya ışığı ileterek mikroskobun gözlüğüne büyütülür. Örneğin ışık dağılımı ve emimi özellikleri altında, görüntüleme sırasında örneğin görüntüleme fenomeni parametrelerin değiştiğine göre sürekli olarak değişir. Gözlemci bu değişikliğe göre örneğin mikroyapısını ve dokusunu değerlendirebilir.

DM12000M Leica Kimafaz Mikroskopu Özellikleri:

Makro modunda hızlı ilk inceleme ve eğimli UV yolu fonksiyonu (OUV, eğimli UV gözlem modu) sağlayan tamamen yeni optik tasarım, yalnızca çözünürlüğü arttırmakla kalmayıp, 12 inç (300 mm) silikon film inceleme kapasitesini de artırır. Yeni LED aydınlatma teknolojisi Entegre tasarlanmış ve mikroskoplara entegre edilmiş, düşük ısı radyasyonu ve gövde içi entegrasyon teknolojisi ideal gövde dışı hava akışını sağlar.

DM12000M Leica Metaza Mikroskopu, inceleme kullanımını kısaltarak, inceleme verimliliğini arttırmak için otomatik odaklama aksesuarları, karanlık görme alanı ve farklı müdahale aşaması gözlemleri dahil olmak üzere tüm yansıtıcı ışık gözlem yöntemlerine uyum sağlar. Hızlı ve doğru otomatik odaklama ve gözlem yöntemi değiştiğinde bile odak yüzeyini gerçek zamanlı olarak tam olarak bulmak.

Üçüncü, iki aydınlatma cihazı seçeneğe bağlıdır, genel tip ve yüksek sayılı açılış tipi. FPD için uygun aydınlatma sağlar ve projeksiyon ışığının kolay polarizasyon gözlemi için polarizasyon aynası ile donatılabilir. Yüksek kontrast, daha yüksek çözünürlük, daha yüksek büyütme denetimi fotogravür kalıntıları denetimi için floresan gözlem yöntemi floresan spektroskop modülü UV optik sistemi 0,12 μm'ye kadar daha yüksek kontrast ve çözünürlük sağlayabilir.

4. Optik parçacık yapıştırıcı kalıntıları ve OLED muayenesi için U.B.G gibi çeşitli floresan yöntemler seçeneğe sahiptir. Mikroskop büyütme ve açılış ışık apendiksiyonunun kontrol ve parametreleri için uygun iletişim arayüzü, wafer ve cihazlar için RS232C elde etmek ve hatta kaynak ayaklarının iç incelemesi için yakın kızılötesi gözlem aksesuarları standart olarak bir RS232C arayüzü içerir, bu da mikroskobun elektrik parçalarını PC ile kontrol etmeyi mümkün kılar ve işlem hattındaki birkaç mikroskobun aynı ayar durumunda çalışmasını sağlar.

5. Özel kızılötesi nesneler ve diğer aksesuarlar dahil olmak üzere, görünür ışıktan yakın kızılötesi bant ışığına kadar farklılığın düzeltilmesi, IC derinliği veya iç muayenesi için, WAFER BUMP'ın kapsamlı muayenesini gerçekleştirebilir.

Altıncı, düşük enerji tüketimi tasarrufu tasarımı, yeşil çevre koruma konseptine uygun olarak hizmet ömrünü büyük ölçüde uzatır. Tek tıklama ile manipülasyon tasarımı kullanıcılar kolayca büyütme dönüşümü ve ilgili aydınlatma ve taban etkileri tamamlayabilir.